Espectrofotómetros
Espectrofotómetro UV-Vis Evolution One Plus
Referencia: 840-341500 | Marca: Thermo Scientific
Descripción
Para aplicaciones avanzadas y de investigación complejas y rutinarias, incluida la conformidad actual, la serie de espectrofotómetros UV-Vis Thermo Scientific Evolution One / One Plus reúne hardware confiable y versátil, una amplia gama de accesorios, con el software fácil de usar y fácil de de aprender Thermo Scientific Insight Pro.
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Para análisis de rutina o de investigación, esta serie de instrumentos ofrece innovaciones reales que brindan mayor facilidad de uso y rendimiento, sin mayor complejidad. Con un software sencillo, instrumentación de vanguardia y una amplia selección de accesorios, los espectrofómetros UV-Vis Evolution One y One Plus trabajan con usted para realizar experimentos de la manera que desee y para obtener los resultados que necesita.
La ingeniería optimizada ofrece el máximo rendimiento
- Geometría de doble haz con opciones de ancho de banda espectral fijo o variable de 1 nm
- La tecnología Application Focused Beam Geometry (AFBG) permite el mejor rendimiento de microcélulas, muestras sólidas y sondas de fibra óptica (solo Evolution One Plus)
- La lámpara de flash de xenón no requiere tiempo de calentamiento, lo que permite mediciones instantáneas
- Satisfaga las necesidades de medición y muestreo químico, de la ciencia de los materiales o biológica con una amplia gama de accesorios
Software Insight Pro
- Fácil de aprender, fácil de usar
- Reduzca el tiempo de capacitación: la interfaz de usuario optimizada con software de indicaciones define un flujo de trabajo claro paso a paso y es fácil de enseñar y aprender
- Evite los costosos errores de muestreo y medición: cree flujos de trabajo dedicados para ensayos complejos y transforme los flujos de trabajo de varios pasos en un método simplificado y fácil de seguir adecuado para cualquier nivel de usuario con un entorno de usuario personalizado (CUE)
- Siempre actualizado: ya se trate de entradas de usuario o requisitos de aplicaciones, o nuevas regulaciones, Insight Pro Software mejora continuamente con actualizaciones rápidas para ofrecer mayores capacidades y eficiencias para las necesidades de su laboratorio.
Accesorios para todas sus necesidades de muestreo
- Amplia selección de accesorios con varias opciones de control de temperatura, cambiadores de muestras, surtidores y dispositivos de muestreo de sólidos completan su análisis
- Opción de soporte de celda única Peltier o un sistema Peltier inteligente de 8 celdas para control de temperatura y monitoreo de muestras de 0 ° a 100 ° C
- La sencilla integración de software le brinda un control completo de sus mediciones
| Tipo de detector |
Fotodiodos duales de silicio |
| Ancho de banda espectral | Variable: 1,0 nm; 2,0 nm; AFBG Microcell optimizado; Fibra óptica AFBG optimizado; Materiales AFBG optimizados |
| Fuente de luz | Lámpara de flash de xenón |
| Modos de escaneo ordenado | Absorbancia,% transmitancia,% reflectancia, Kubelka-Munk, log (1 / R), log (Abs), Abs * Factor, Intensidad |
| Rejilla | Holográfico, 1200 líneas / mm, encendido a 250 nm Holográfico, 1200 |
| Luz extraviada | KCl, 198 nm: ≤1% T NaI, 220 nm: ≤0.05% T NaNO2, 340 nm: <0.05% T |
| Planitud de la línea de base | ± 0,001 A (200 a 800 nm) 1.0 nm SBW, suavizado |
| Diseño óptico | Doble haz con cubeta de muestra y referencia posiciones; Geometría de haz enfocada a la aplicación (AFBG); Monocromador Czerny-Turner |
| Dimensiones (An × P × Al) | 593 × 475 × 266 mm (23,3 pulg. × 18,7 pulg. × 10,6 pulg.) |
| Peso | 14.5 kg (32 lb) |
| Requisitos eléctricos | 100–240 V, 50–60 Hz, seleccionado automáticamente 150 W máximo |
Longitud de onda
| Rango | 190–1100 nm |
| Precisón | ± 0,5 nm (541,9 nm xenón, 546,1 nm líneas de mercurio) ± 0,8 nm (rango completo 190-1100 nm) |
| Repetibilidad | ≤0.05 nm (Línea de mercurio de 546,1 nm, SD de 10 mediciones) |
| Velocidad de escaneo | <1 a 6000 nm / min; variable |
| Intervalos de datos | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
Fotométrica
| Rango | >3.5 A |
| Rango de visualización | -0.3 to 4.0 A |
| Precisión - Instrumento | 1A: ± 0,004 A 2A: ± 0,008 A Medido a 440 nm utilizando filtros de densidad neutra trazables a NIST |
| Repetibilidad | 1A: ±0.0002 A |
| Ruido | 0A: ≤0.00015 A 1A: ≤0.00025 A 2A: ≤0.00050 A 260 nm, 1.0 nm SBW, RMS |
| Deriva (estabilidad) | <0,0005 A / hora 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hora de calentamiento |
(57)+604 4480388