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Espectrofotómetros

  • Espectrofotómetro UV-Vis Evolution One Plus

Espectrofotómetro UV-Vis Evolution One Plus

Referencia: 840-341500 | Marca: Thermo Scientific

Descripción

Para aplicaciones avanzadas y de investigación complejas y rutinarias, incluida la conformidad actual, la serie de espectrofotómetros UV-Vis Thermo Scientific Evolution One / One Plus reúne hardware confiable y versátil, una amplia gama de accesorios, con el software fácil de usar y fácil de de aprender Thermo Scientific Insight Pro.


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Para análisis de rutina o de investigación, esta serie de instrumentos ofrece innovaciones reales que brindan mayor facilidad de uso y rendimiento, sin mayor complejidad. Con un software sencillo, instrumentación de vanguardia y una amplia selección de accesorios, los espectrofómetros UV-Vis Evolution One y One Plus trabajan con usted para realizar experimentos de la manera que desee y para obtener los resultados que necesita.

 

La ingeniería optimizada ofrece el máximo rendimiento

  • Geometría de doble haz con opciones de ancho de banda espectral fijo o variable de 1 nm
  • La tecnología Application Focused Beam Geometry (AFBG) permite el mejor rendimiento de microcélulas, muestras sólidas y sondas de fibra óptica (solo Evolution One Plus)
  • La lámpara de flash de xenón no requiere tiempo de calentamiento, lo que permite mediciones instantáneas
  • Satisfaga las necesidades de medición y muestreo químico, de la ciencia de los materiales o biológica con una amplia gama de accesorios

Software Insight Pro

  • Fácil de aprender, fácil de usar
  • Reduzca el tiempo de capacitación: la interfaz de usuario optimizada con software de indicaciones define un flujo de trabajo claro paso a paso y es fácil de enseñar y aprender
  • Evite los costosos errores de muestreo y medición: cree flujos de trabajo dedicados para ensayos complejos y transforme los flujos de trabajo de varios pasos en un método simplificado y fácil de seguir adecuado para cualquier nivel de usuario con un entorno de usuario personalizado (CUE)
  • Siempre actualizado: ya se trate de entradas de usuario o requisitos de aplicaciones, o nuevas regulaciones, Insight Pro Software mejora continuamente con actualizaciones rápidas para ofrecer mayores capacidades y eficiencias para las necesidades de su laboratorio.

Accesorios para todas sus necesidades de muestreo

  • Amplia selección de accesorios con varias opciones de control de temperatura, cambiadores de muestras, surtidores y dispositivos de muestreo de sólidos completan su análisis
  • Opción de soporte de celda única Peltier o un sistema Peltier inteligente de 8 celdas para control de temperatura y monitoreo de muestras de 0 ° a 100 ° C
  • La sencilla integración de software le brinda un control completo de sus mediciones

 

 Tipo de detector

Fotodiodos duales de silicio

Ancho de banda espectral Variable: 1,0 nm; 2,0 nm;
AFBG Microcell optimizado; Fibra óptica AFBG
optimizado; Materiales AFBG optimizados
 Fuente de luz  Lámpara de flash de xenón
 Modos de escaneo ordenado  Absorbancia,% transmitancia,% reflectancia, Kubelka-Munk,
log (1 / R), log (Abs), Abs * Factor, Intensidad
 Rejilla  Holográfico, 1200 líneas / mm, encendido a 250 nm Holográfico, 1200
Luz extraviada  KCl, 198 nm: ≤1% T
NaI, 220 nm: ≤0.05% T
NaNO2, 340 nm: <0.05% T
 Planitud de la línea de base  ± 0,001 A (200 a 800 nm)
1.0 nm SBW, suavizado
Diseño óptico Doble haz con cubeta de muestra y referencia
posiciones; Geometría de haz enfocada a la aplicación
(AFBG); Monocromador Czerny-Turner
Dimensiones (An × P × Al)  593 × 475 × 266 mm (23,3 pulg. × 18,7 pulg. × 10,6 pulg.)
 Peso  14.5 kg (32 lb)
Requisitos eléctricos  100–240 V, 50–60 Hz, seleccionado automáticamente
150 W máximo

 

Longitud de onda

Rango 190–1100 nm
Precisón ± 0,5 nm (541,9 nm xenón, 546,1 nm líneas de mercurio)
± 0,8 nm (rango completo 190-1100 nm)
Repetibilidad ≤0.05 nm
(Línea de mercurio de 546,1 nm, SD de 10 mediciones)
Velocidad de escaneo <1 a 6000 nm / min; variable
Intervalos de datos 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm

 

Fotométrica

Rango >3.5 A
Rango de visualización -0.3 to 4.0 A
Precisión - Instrumento 1A: ± 0,004 A
2A: ± 0,008 A
Medido a 440 nm utilizando filtros de densidad neutra trazables a NIST
Repetibilidad 1A: ±0.0002 A
Ruido 0A: ≤0.00015 A
1A: ≤0.00025 A
2A: ≤0.00050 A
260 nm, 1.0 nm SBW, RMS
Deriva (estabilidad) <0,0005 A / hora
500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hora de calentamiento

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